特許
J-GLOBAL ID:200903000795599814

透明シート状成形体の欠陥検査法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 久保山 隆 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-267545
公開番号(公開出願番号):特開平8-128968
出願日: 1994年10月31日
公開日(公表日): 1996年05月21日
要約:
【要約】 (修正有)【構成】 連続的に移送される透明シート状成形体の片側から、該透明シート状成形体に対し斜め方向より高輝度、高指向性の光を照射し、該透明シート状成形体を透過してきた透過光を画像入力装置3で受光し、画像入力装置3で受光して得た信号を画像処理装置4にて、予め設定した高明度閾値d1 と低明度閾値d2 、或いは低明度閾値d2 と高明度閾値d1 を連続して越える信号の少なくとも一種を欠陥として判別することを特徴とする透明シート状成形体の欠陥検査法。【効果】 従来では測定困難であったようなシート状成形体の微細な凹凸状の欠陥や汚れの判別をオンライン状で自動的に検出可能としたものである。
請求項(抜粋):
連続的に移送される透明シート状成形体の片側から、該透明シート状成形体に対し斜め方向より高輝度、高指向性の光を照射し、該透明シート状成形体を透過してきた透過光を画像入力装置で受光し、画像入力装置で受光して得た信号を画像処理装置にて、予め設定した高明度閾値d1 と低明度閾値d2 、或いは低明度閾値d2 と高明度閾値d1 を連続して越える信号の少なくとも一種を欠陥として判別することを特徴とする透明シート状成形体の欠陥検査法。
IPC (3件):
G01N 21/89 ,  G01N 21/88 ,  G06T 7/00
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開平4-178545
  • 特開平4-178545

前のページに戻る