特許
J-GLOBAL ID：200903000857048712
ICメモリカードおよびそのICメモリカードの検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-096666
公開番号（公開出願番号）：特開平7-306922
出願日： 1994年05月10日
公開日（公表日）： 1995年11月21日
要約：
【要約】【目的】フラッシュEEPROMに記憶されている初期不良情報を破壊せずに、それを有効利用したカード検査を実現する。【構成】フラッシュEEPROMの初期不良情報がアトリビュートメモリ13の第2記憶領域13bに格納され、その後、テストデータパターンの書き込みなどによるフラッシュEEPROMの消去および書き込み動作の検査が行われる。したがって、初期不良情報を破壊すること無く、接触不良などのアセンブリの状態やメモリの動作を検査することできる。初期不良情報は検査結果に従って更新され、その更新された情報に基づいて不良ブロックテーブルが生成される。この不良ブロックテーブルはカード属性情報の一部としてアトリビュートメモリ13に格納される。
請求項（抜粋）：
フラッシュEEPROMから構成されるコモンメモリと、カード属性情報を格納するアトリビュートメモリとを内蔵し、データ処理装置に着脱自在に装着されるICメモリカードにおいて、前記フラッシュEEPROMの不良ブロックを示す不良情報を格納するための記憶領域が前記アトリビュートメモリの一部に設けられていることを特徴とするICメモリカード。
IPC (4件)：
G06K 19/07
, B42D 15/10 521
, G06F 12/16 330
, G11C 29/00 301
