特許
J-GLOBAL ID：200903000874444796
Bragg反射自動選出方法および装置並びに結晶方位自動決定方法およびシステム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡崎 謙秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-146379
公開番号（公開出願番号）：特開2000-055838
出願日： 1999年05月26日
公開日（公表日）： 2000年02月25日
要約：
【要約】【課題】 結晶試料の結晶方位の決定を容易に、且つ自動で行うことのできる、新しいBragg反射自動選出方法および装置並びに結晶方位自動決定方法およびシステムを提供する。【解決手段】 2反射法による結晶試料の結晶方位の決定において、基準となる二つのBragg反射pc1およびpc2をコンピュータを用いて自動的に選出するBragg反射自動選出方法であって、測定可能な全Bragg反射各々のX線強度および回折条件である2θ角、ω角、χ角、φ角を入力された結晶情報から計算し(ステップ2)、各Bragg反射に、そのX線強度の大きさおよび試料面法線と散乱ベクトルとの開き角に基づいて重み点数付けを行い(ステップ3)、重み点数の大きい順に二つのBragg反射pc1およびpc2を選出する(ステップ4)。
請求項（抜粋）：
2反射法による結晶試料の結晶方位の決定において、基準となる二つのBragg反射pc1およびpc2をコンピュータを用いて自動的に選出するBragg反射自動選出方法であって、測定可能な全Bragg反射各々のX線強度および回折条件である2θ角、ω角、χ角、φ角を入力された結晶情報から計算し、各Bragg反射に、そのX線強度の大きさおよび試料面法線と散乱ベクトルとの開き角に基づいて重み点数付けを行い、重み点数の大きい順に二つのBragg反射pc1およびpc2を選出することを特徴とするBragg反射自動選出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 23/207
, G21K 1/06 F
