測光装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：永井冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-038250
公開番号（公開出願番号）：特開平9-230419
出願日： 1996年02月26日
公開日（公表日）： 1997年09月05日
要約：

【要約】【課題】望遠から至近までの撮影条件の変化に対応して最適な測光領域を設定し、その測光領域内の複数の分割領域で測光を行なう。【解決手段】複数の光電変換素子11〜55を一次元状に配列した光電変換素子列61を用い、光学系63,70によって被写界を二次元状に複数の領域に分割して各分割領域を各光電変換素子11〜55に対応させ、各分割領域からの光束を対応する光電変換素子11〜55へ導く。

請求項（抜粋）：

複数の光電変換素子を一次元状に配列した光電変換素子列と、被写界を二次元状に複数の領域に分割して各分割領域を前記各光電変換素子に対応させ、前記各分割領域からの光束を対応する前記光電変換素子へ導く光学系とを備えることを特徴とする測光装置。

IPC (3件)：

G03B 7/28 , G02B 7/28 , G03B 13/36

FI (3件)：

G03B 7/28 , G02B 7/11 N , G03B 3/00 A

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