特許
J-GLOBAL ID:200903000905286566

雑音指数算出方法および雑音指数計測装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 古谷 史旺
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-147706
公開番号(公開出願番号):特開平7-005070
出願日: 1993年06月18日
公開日(公表日): 1995年01月10日
要約:
【要約】【目的】 本発明は、光増幅器の雑音指数を得る雑音指数演算方法および雑音指数計測装置に関し、簡単な算術演算により精度よく雑音指数を得ることを目的とする。【構成】 デシベル単位の利得G* で波長λS の信号光を増幅し、かつ波長λC(≠λS )を中心波長とする波長帯域にデシベル単位の強度P*ASEC)で自然放出光を発生する光増幅器について、雑音指数F* を求める雑音指数算出方法において、利得G* および強度P*ASEC)の一次式で近似される雑音指数F* について、これらの利得、強度および雑音指数の既知の値に基づいて予め求められた定数Aおよび係数Bを適用して得られるF*≒P*ASEC)+A+B・G* の式による算術演算を行い、雑音指数F* の近似値を得る近似演算手段を備えて構成される。
請求項(抜粋):
デシベル単位の利得G* で波長λS の信号光を増幅し、かつ波長λC(≠λS)を中心波長とする波長帯域にデシベル単位の強度P*ASEC)で自然放出光を発生する光増幅器について、雑音指数F* を求める雑音指数算出方法において、前記利得G* および前記強度P*ASEC)の一次式で近似される雑音指数F*について、これらの利得、強度および雑音指数の既知の値に基づいて予め求められた定数Aおよび係数Bを適用して得られるF* ≒P*ASEC)+A+B・G*の式による算術演算を行い、前記雑音指数F* の近似値を得る近似演算手段を備えたことを特徴とした雑音指数算出方法。
IPC (2件):
G01M 11/00 ,  H03F 3/08

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