特許

J-GLOBAL ID：200903000932178325

分析システム

発明者： 皆川 則子 ,  白崎 俊浩 ,  新井 秀雄 ,  古屋 寿宏 ,  富澤 淳一郎
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立サイエンスシステムズ
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2001009437
公開番号（公開出願番号）：WO2002-068963
出願日： 2001年10月26日
公開日（公表日）： 2002年09月06日
要約：

本発明は、多数の個人、または団体で行われた分析に関わる情報を容易にデータベースとして蓄積していくことができ、且つ、蓄積された情報を誰もが共有することができる分析装置用データベースシステムを提供することを目的とする。当該目的のための本発明の特徴は、試料の分析を行う分析装置、分析装置の分析条件に関するデータを蓄積したデータベースを備えたサーバ、前記分析装置とサーバを接続するインターネットを用いる分析システムであって、前記分析装置は、インターネットを介してサーバに検索条件を送信し、前記サーバは、受信した検索条件を元に、条件に合う分析条件データがサーバ内のデータベースに格納されているかを検索し、データベース内に存在した場合は、分析装置に対して分析条件データを送信し、前記分析装置は、当該分析条件データを自らの装置の分析条件として設定し試料の分析を行うことである。これにより、分析情報が多数の個人または団体によって登録されるため、データベース運用者は人手をかけずに、大規模なデータベースを自動構築することができる。

請求項（抜粋）：

試料の分析を行う分析装置、 分析装置の分析条件に関するデータを蓄積したデータベースを備えたサーバ、 前記分析装置とサーバを接続するインターネットを用いる分析システムであって、 前記分析装置は、インターネットを介してサーバに検索条件を送信し、 前記サーバは、受信した検索条件を元に、条件に合う分析条件データがサーバ内のデータベースに格納されているかを検索し、データベース内に存在した場合は、分析装置に対して分析条件データを送信し、 前記分析装置は、当該分析条件データを自らの装置の分析条件として設定し試料の分析を行うことを特徴とする分析システム。

IPC (3件)：

G01N35/00 ,  G01N21/31 ,  G01N30/86

FI (3件)：

G01N35/00 A ,  G01N21/31 610Z ,  G01N30/86 G