特許
J-GLOBAL ID:200903000939963850

スクリーニング装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 藤田 考晴 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-149899
公開番号(公開出願番号):特開2002-340762
出願日: 2001年05月18日
公開日(公表日): 2002年11月27日
要約:
【要約】【課題】 (1)被検査物に対して加える荷重と変形量との関係を、段階的でなく連続した検査データとしてより高精度に求めることができ、(2)検査時の被検査物の姿勢が水平方向に制限されることがなく、(3)検査時の被検査物に対して衝撃荷重を加えるのを防止でき、(4)検査を行う作業者の負担を軽減させることができる、手段の提供を課題とする。【解決手段】 検査対象の発電セル1に対する相対位置が固定可能な基台部20と、同発電セル1に対して線形荷重を加えるとともにその変形量を測定する検査部30と、同発電セル1に対する検査部30の相対位置調整を行う相対位置調整部40とを備えた構成を採用した。
請求項(抜粋):
被検査物の曲げ強度検査に用いられるスクリーニング装置であり、前記被検査物に対する相対位置が固定可能な基台部と、該基台部に設けられ、前記被検査物に対して線形荷重を加えるとともに該被検査物の変形量を測定する検査部と、前記被検査物に対する前記検査部の相対位置調整を行う相対位置調整部とを備えていることを特徴とするスクリーニング装置。
IPC (3件):
G01N 3/20 ,  G01N 33/38 ,  H01M 8/04
FI (3件):
G01N 3/20 ,  G01N 33/38 ,  H01M 8/04 Z
Fターム (11件):
2G061AA07 ,  2G061AB01 ,  2G061BA08 ,  2G061CA05 ,  2G061CB02 ,  2G061CB04 ,  2G061EA01 ,  2G061EA02 ,  2G061EC04 ,  5H027AA06 ,  5H027DD00

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