特許

J-GLOBAL ID：200903000963229637

試料分析装置

発明者： 元津 和典
出願人/特許権者： シスメックス株式会社
代理人 (1件)： 野河 信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-372884
公開番号（公開出願番号）：特開2004-205292
出願日： 2002年12月24日
公開日（公表日）： 2004年07月22日
要約：

【課題】測定ユニットとポンプとの接続を簡略化し、かつ、測定ユニットの試料によってポンプが汚染されることを防止する。【解決手段】試料を流す試料流路を有する測定ユニットを着脱可能に搭載し、一端が試料流路に接続される第1流路を備えた流体基板と、一端が第1流路の他端に接続される第2流路を備えたポンプ設置部材と、ポンプ設置部材に設置され第2流路の他端に接続されるポンプと、試料流路へ圧力が供給されて測定ユニット内で試料が移送されるようにポンプを制御する制御部と、測定ユニット内で移送される試料の特性を測定する測定部と、測定結果から試料を分析する分析部を備える。【選択図】 図19

請求項（抜粋）：

試料を流す試料流路を有する測定ユニットを着脱可能に搭載し、一端が試料流路に接続される第1流路を備えた流体基板と、一端が第1流路の他端に着脱可能に接続される第2流路を備えたポンプ設置部材と、ポンプ設置部材に設置され第2流路の他端に接続されるポンプと、試料流路へ圧力が供給されて測定ユニット内で試料が移送されるようにポンプを制御する制御部と、測定ユニット内で移送される試料の特性を測定する測定部を備える試料分析装置。

IPC (4件)：

G01N35/02 ,  G01N1/00 ,  G01N35/08 ,  G01N35/10

FI (5件)：

G01N35/02 F ,  G01N1/00 101L ,  G01N1/00 101M ,  G01N35/08 A ,  G01N35/06 B

Fターム (23件)：

2G052AA30 ,  2G052AD46 ,  2G052CA04 ,  2G052CA35 ,  2G052CA38 ,  2G052DA09 ,  2G052FD01 ,  2G052GA12 ,  2G052GA23 ,  2G052JA08 ,  2G058BA01 ,  2G058CC11 ,  2G058DA07 ,  2G058EB01 ,  2G058EC01 ,  2G058GA06 ,  2G058GA12 ,  2G058GC05 ,  2G060AA07 ,  2G060AE40 ,  2G060AF07 ,  2G060GA01 ,  2G060KA05

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 小型分析装置及びその駆動方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-180735   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 特開平2-185387
  
• 特開平2-185387