特許
J-GLOBAL ID：200903000984307514
タイヤ検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
杉村 興作
, 藤谷 史朗
, 来間 清志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-318563
公開番号（公開出願番号）：特開2008-134074
出願日： 2006年11月27日
公開日（公表日）： 2008年06月12日
要約：
【課題】タイヤの不良箇所を特定するまでの手間及び時間を大幅に減少することができるタイヤ検査方法を提供する。【解決手段】先ず、X線カメラ15によって撮影されたタイヤ12の画像を用いて、不良箇所16を検出する。次いで、タイヤ12がb方向に回転することによって識別部11が不良箇所16の検出位置に到達したことを、識別部検出部14によって検出する。次いで、不良箇所16を検出してから識別部11が不良箇所16の検出位置に到達するまでの時間を計測し、時間を、角速度を用いて距離に変換する。このように角速度から距離を算出することによって、識別部11を基準としてどの位置に不良箇所16が存在するかを容易に特定することができ、不良箇所16を特定するまでの時間を大幅に減少することができる。【選択図】図2
請求項１：
識別部を有するタイヤを一定の角速度で回転させ、前記タイヤに電磁波放射線を照射する電磁波放射線源、前記識別部を検出する識別部検出手段、及び前記タイヤを撮影するカメラを用いて、前記タイヤの不良箇所を検査するタイヤ検査方法であって、
前記カメラによって撮影されたタイヤの画像を用いて、前記不良箇所を検出するステップと、
前記識別部が前記不良箇所の検出位置に到達したことを、前記識別部検出手段によって検出するステップと、
前記不良箇所を検出してから前記識別部が前記不良箇所の検出位置に到達するまでの時間を計測するステップと、
前記時間を、前記角速度を用いて距離に変換するステップとを具えることを特徴とするタイヤ検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (8件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001GA06
, 2G001HA13
, 2G001KA03
, 2G001LA05
, 2G001PA12
