特許

J-GLOBAL ID：200903001014639480

フィルムの平面性測定方法

発明者： 新田 省三
出願人/特許権者： 帝人株式会社
代理人 (1件)： 前田 純博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-171665
公開番号（公開出願番号）：特開平7-027561
出願日： 1993年07月12日
公開日（公表日）： 1995年01月27日
要約：

【要約】【目的】褶曲したフィルムの平面性を測定する際の作業性や定量性を向上させる。【構成】褶曲したままの状態のフィルム1を水平に設置したフラット板2上に置き、所定の間隔で水平面上を走査しながらフィルムの高さを測定し、フィルムの高さを測定し位置の水平座標とフィルムの高さの情報とから、フィルムの褶曲した表面に沿った長さを算出し、水平面上に投影したフィルムの長さとフィルムの褶曲した表面に沿った長さとを比較して、フィルムの平面性を評価する。

請求項（抜粋）：

褶曲したフィルムの平面性を測定するフィルムの平面性測定方法において、褶曲したままの状態のフィルムを水平に設置したフラット板上に置き、所定の間隔で水平面上を走査しながらフィルムの高さを測定し、フィルムの高さを測定し位置の水平座標とフィルムの高さの情報とから、フィルムの褶曲した表面に沿った長さを算出し、水平面上に投影したフィルムの長さとフィルムの褶曲した表面に沿った長さとを比較して、フィルムの平面性を評価することを特徴とするフィルムの平面性測定方法。