特許

J-GLOBAL ID：200903001044565392

分析装置

発明者： 藤 寛
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人原謙三国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-044648
公開番号（公開出願番号）：特開2006-226972
出願日： 2005年02月21日
公開日（公表日）： 2006年08月31日
要約：

【課題】 検出した光にバックグラウンド光が含まれていても、分析対象物が発する発光を高精度で検出する。【解決手段】 分析用基板1には、分析対象物およびバッファを展開している第1セルと、バッファのみを展開している第2セルとが形成されている。光学ピックアップ62は、第1セルが光ビームiを照射されたときに発する検出光と、第2セルが光ビームiを照射されたときに発するバックグラウンド光とを検出する。光量検出回路65は、検出光の強度を表す検出光信号を生成し、かつ、バックグラウンド光の強度を表すバックグラウンド光信号を生成する。光量検出回路65は、検出光信号からバックグラウンド光信号を減算することによって、検出光の強度から、バックグラウンド光の強度成分を除去する。これにより、検出した光にバックグラウンド光が含まれていても、分析対象物が発する発光を高精度で検出できる。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

分析用基板に形成されているセルに光ビームを照射するとともに、前記セルが前記光ビームを照射されることによって発する発光を検出する光ピックアップと、 前記光ピックアップが検出した前記発光に基づき、この発光の強度を表す信号を生成する信号生成手段とを備えている分析装置において、 前記分析用基板には、分析対象物および参照用試料を展開している第1セルと、前記参照用試料のみを展開している第2セルとが形成されており、 前記光ピックアップは、前記第1セルが前記光ビームを照射されたときに発する検出光と、前記第2セルが前記光ビームを照射されたときに発するバックグラウンド光とを検出するものであり、 前記信号生成手段は、前記検出光に基づき、前記検出光の強度を表す検出光信号を生成し、かつ、前記バックグラウンド光に基づき、前記バックグラウンド光の強度を表すバックグラウンド光信号を生成するものであり、 前記検出光信号から前記バックグラウンド光信号を減算する減算手段をさらに備えていることを特徴とする分析装置。

IPC (2件)：

G01N 21/64 ,  G01N 21/03

FI (2件)：

G01N21/64 Z ,  G01N21/03 Z

Fターム (29件)：

2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043EA19 ,  2G043FA07 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043GB02 ,  2G043GB16 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043HA09 ,  2G043KA02 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043MA01 ,  2G043NA01 ,  2G057AA04 ,  2G057AB01 ,  2G057AB04 ,  2G057AC01 ,  2G057BA01 ,  2G057BB01 ,  2G057BB06 ,  2G057BD10 ,  2G057CA10 ,  2G057HA04

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-045498   出願人：松下電器産業株式会社