特許
J-GLOBAL ID：200903001045942491
同位体純度の測定方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
間山 世津子
, 野村 健一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-194083
公開番号（公開出願番号）：特開2005-030816
出願日： 2003年07月09日
公開日（公表日）： 2005年02月03日
要約：
【課題】同位体純度を正確に測定することができる方法および装置の提供。【解決手段】下記の(1)〜(3)のいずれかの工程を含む、サンプル中の化合物の特定位の元素の同位体純度を赤外分光法を用いて測定する方法。(1)測定対象の同位体を含む結合に帰属される吸収帯の強度を測定し、その強度に基づいて、前記サンプル中の化合物の特定位の同位体純度を決定する工程(2)測定対象の同位体を含む結合に帰属される吸収帯および他の結合に帰属される吸収帯の強度を測定し、その強度の比に基づいて、前記サンプル中の化合物の特定位の同位体純度を決定する工程(3)測定対象の同位体を含む結合に帰属される吸収帯と、同じ結合であるが測定対象以外の同位体を含む結合に帰属される吸収帯との強度を測定し、その強度の比に基づいて、前記サンプル中の化合物の特定位の同位体純度を決定する工程【選択図】 なし
請求項（抜粋）：
下記の(1)〜(3)のいずれかの工程を含む、サンプル中の化合物の特定位の元素の同位体純度を赤外分光法を用いて測定する方法。
(1)測定対象の同位体を含む結合に帰属される吸収帯の強度を測定し、その強度に基づいて、前記サンプル中の化合物の特定位の同位体純度を決定する工程
(2)測定対象の同位体を含む結合に帰属される吸収帯および他の結合に帰属される吸収帯の強度を測定し、その強度の比に基づいて、前記サンプル中の化合物の特定位の同位体純度を決定する工程
(3)測定対象の同位体を含む結合に帰属される吸収帯と、同じ結合であるが測定対象以外の同位体を含む結合に帰属される吸収帯との強度を測定し、その強度の比に基づいて、前記サンプル中の化合物の特定位の同位体純度を決定する工程
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (13件)：
2G059AA01
, 2G059AA06
, 2G059BB04
, 2G059BB08
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059EE01
, 2G059EE12
, 2G059HH01
, 2G059JJ06
, 2G059KK01
, 2G059MM01
, 2G059MM12
