特許
J-GLOBAL ID:200903001046717580
吸着状態検査装置、表面実装機、及び、部品試験装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
小谷 悦司
, 伊藤 孝夫
, 樋口 次郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-163605
公開番号(公開出願番号):特開2005-347412
出願日: 2004年06月01日
公開日(公表日): 2005年12月15日
要約:
【課題】 吸着部材における電子部品の吸着状態をより正確に検査することを可能にする。【解決手段】 電子部品を吸着するための吸着ノズル122に特徴部分1220を形成し、側面撮像用カメラ142から検出される電子部品の下端部の高さ位置と、上記特徴部分を撮像した画像から検出される上記特徴部分の高さ位置と、吸着ノズル122の下端部に対する上記特徴部分の位置関係とに基づいて、吸着ノズル122の下端部から上記電子部品の下端部までの距離を演算し、この演算結果に基づいて上記電子部品の吸着状態を検査する演算手段を設けることを特徴とする。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
電子部品を吸着する吸着部材を上下位置調節可能に設けた部品搬送手段と、
上記吸着部材及びこれに吸着された上記電子部品を側方から撮像して側面画像を得る第1撮像手段と、
上記吸着部材に吸着された上記電子部品を電子部品吸着面と垂直あるいは略垂直方向に離間した位置から撮像して底面画像を得る第2撮像手段とを備え、
上記第1撮像手段及び上記第2撮像手段で撮像した画像を用いて吸着状態を検査する吸着状態検査装置であって、
上記吸着部材の下端部に対して所定の位置関係にある部位に、側方から撮像した画像で認識可能な特徴部分を設けるとともに、
上記第1撮像手段による撮像により得られる画像から検出される電子部品の下端部の高さ位置と、上記特徴部分を撮像した画像から検出される上記特徴部分の高さ位置と、上記吸着部材の下端部に対する上記特徴部分の位置関係とに基づいて、上記吸着部材の下端部から上記電子部品の下端部までの距離を演算し、この演算結果に基づいて上記電子部品の吸着状態を検査する演算手段を設けた
ことを特徴とする吸着状態検査装置。
IPC (3件):
H05K13/04
, G01R31/26
, H05K13/08
FI (3件):
H05K13/04 B
, G01R31/26 Z
, H05K13/08 Q
Fターム (9件):
2G003AA07
, 2G003AG16
, 2G003AH07
, 5E313AA02
, 5E313AA11
, 5E313CD06
, 5E313EE02
, 5E313EE03
, 5E313EE22
引用特許:
出願人引用 (2件)
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電子部品実装装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-196644
出願人:松下電器産業株式会社
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特許第2801331号公報
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