特許
J-GLOBAL ID:200903001072276380

パターン・コーナー検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 京本 直樹 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-325853
公開番号(公開出願番号):特開平5-242228
出願日: 1991年12月10日
公開日(公表日): 1993年09月21日
要約:
【要約】【目的】処理時間を短縮する。【構成】測定対象パターンの2値化画像3を細線化回路5で細線化画像に変換し、更に細線化画像に対してラスタースキャンに同期した円形マスク走査回路7と直線検出回路9で直線部を検出する。この結果検出された直線画像を排他的論理和によって、元の細線化画像から取り除いて、パターン・コーナーのみが抽出される。
請求項(抜粋):
(A)測定対象パターンを、光電変換スキャナで走査して読みだした入力画像を、”0”、”1”の2値化画像に変換する2値化回路、(B)前記2値化回路より出力される2値化画像を1ビット幅の細線化画像に変換する細線化回路、(C)前記細線化画像に、あらかじめ設定した直径の円形マスクをラスタースキャンに同期して走査し、この走査した円形マスクの中心部が前記細線化画像上にあるかどうかを判定する円形マスク走査回路、(D)前記円形マスク走査回路で検出した位置で、円形マスク上の向かい合う2点がともに細線化画像上ある場合に直線上の位置として検出する直線検出回路、(E)前記細線化画像と前記直線位置検出回路で検出された直線位置画像との排他的論理和(EOR)を求めて、コーナー位置のみを取り出すコーナー検出回路、とを含むことを特徴とするパターン・コーナー検出装置。
IPC (4件):
G06F 15/64 ,  G01B 11/24 ,  G06F 15/70 365 ,  G06F 15/62 405

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