特許

J-GLOBAL ID：200903001100249580

X線センサ信号処理回路及びX線CT装置

発明者： 上村 博 ,  北澤 聡
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-100721
公開番号（公開出願番号）：特開2003-294844
出願日： 2002年04月03日
公開日（公表日）： 2003年10月15日
要約：

【要約】【課題】本発明の目的は、X線センサとしてCdTeセンサを用いた場合でも、X線センサで発生する分極効果による感度低下を確実に抑制し、常に一定感度でX線量を測定できるX線センサ信号処理回路及びこれを用いたX線CT装置を提供することにある。【解決手段】本発明では、加速器から出射されて被試験体を透過したパルス状のX線を検出するX線センサの出力信号を処理するX線センサ信号処理回路が、前記加速器からX線が出射されてから次のX線が出射されるまでの間に、前記X線センサのバイアス電圧を少なくとも一度ゼロにする機能を有するバイアス電圧調整回路を備える。

請求項（抜粋）：

加速器から出射されて被試験体を透過したパルス状のX線を検出するX線センサの出力信号を処理するX線センサ信号処理回路において、前記加速器からX線が出射されてから次のX線が出射されるまでの間に、前記X線センサのバイアス電圧を少なくとも一度ゼロにする機能を有するバイアス電圧調整回路を備えることを特徴とするX線センサ信号処理回路。

IPC (3件)：

G01T 1/175 ,  G01N 23/04 ,  G01T 1/24

FI (3件)：

G01T 1/175 ,  G01N 23/04 ,  G01T 1/24

Fターム (16件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001GA01 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA06 ,  2G001KA01 ,  2G001KA03 ,  2G001LA02 ,  2G088EE02 ,  2G088FF02 ,  2G088GG21 ,  2G088KK40