特許

J-GLOBAL ID：200903001129591880

漏れ光によるき裂貫通検出方法

発明者： 井上 健裕 ,  萱森 陽一
出願人/特許権者： 新日本製鐵株式会社
代理人 (2件)： 松本 悦一 ,  椎名 彊
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-184029
公開番号（公開出願番号）：特開2008-014687
出願日： 2006年07月04日
公開日（公表日）： 2008年01月24日
要約：

【課題】 表面き裂を持つ配管や圧力容器からのき裂貫通の検出において、内部に封入・加圧した溶媒によらずに、漏れ光によりき裂貫通を検出する方法を提供する。【解決手段】 金属製の配管または圧力容器の表面または内部の欠陥、き裂、切欠き等からのき裂の成長によるき裂貫通を検出する方法であって、配管または圧力容器の壁面の片面に光が侵入しないように遮光して暗空間を作るとともに、前記壁面の対面に照明または自然光を照射して明空間を作り、前記暗空間の欠陥、き裂、切欠き等を見込む位置に受光素子を配し、漏れ光侵入を計測することにより、き裂の貫通を検出することを特徴とする、漏れ光によるき裂貫通検出方法。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

金属製の配管または圧力容器の表面または内部の欠陥、き裂、切欠き等からのき裂の成長によるき裂貫通を検出する方法であって、配管または圧力容器の壁面の片面に光が侵入しないように遮光して暗空間を作るとともに、前記壁面の対面に照明または自然光を照射して明空間を作り、前記暗空間の欠陥、き裂、切欠き等を見込む位置に受光素子を配し、漏れ光侵入を計測することにより、き裂の貫通を検出することを特徴とする、漏れ光によるき裂貫通検出方法。

IPC (2件)：

G01N 21/954 ,  G01M 3/38

FI (2件)：

G01N21/954 Z ,  G01M3/38 Z

Fターム (12件)：

2G051AA11 ,  2G051AA37 ,  2G051AA82 ,  2G051AB03 ,  2G051CA01 ,  2G051CA02 ,  2G051CB02 ,  2G051EA23 ,  2G067AA06 ,  2G067AA11 ,  2G067BB15 ,  2G067DD11

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 金属テープのピンホール検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-060227   出願人：古河電気工業株式会社
• 不良缶検出方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-237803   出願人：三菱マテリアル株式会社