特許
J-GLOBAL ID：200903001153040810
部分体積アーチファクトを検出する方法およびシステム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
生沼 徳二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-332514
公開番号（公開出願番号）：特開平10-225452
出願日： 1997年12月03日
公開日（公表日）： 1998年08月25日
要約：
【要約】【課題】 イメージング対象について断層撮影走査で収集された走査データの中の部分体積アーチファクトを検出する方法およびシステムを提供する。【解決手段】 イメージング対象(50)の投影データの複数のサンプリング対を定め、その際、各対の投影データが同じ経路に沿って180 ゚離れて投射されたX線ビーム(16)によって作成されるようにし、次いで、これらの定められたサンプリング対内の投影データを使用して、各々のサンプリング対内の投影データ間の差を含む不一致マップを作成し、この不一致マップを使用して、投影データ内の部分体積アーチファクトを表す部分体積特徴を決定する。
請求項（抜粋）：
イメージング対象について断層撮影走査で収集された走査データの中の部分体積アーチファクトを検出する方法において、走査データの少なくとも1つのサンプリング対を定めるステップ、および前記定められたサンプリング対を使用して、不一致マップを作成するステップを有することを特徴とする部分体積アーチファクト検出方法。
IPC (2件)：
A61B 6/03 350
, G06T 1/00
A61B 6/03 350 F
, G06F 15/62 390 B
