特許
J-GLOBAL ID：200903001166480541
光学ヘッドの検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
福島 康文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-043619
公開番号（公開出願番号）：特開平5-242545
出願日： 1992年02月28日
公開日（公表日）： 1993年09月21日
要約：
【要約】【目的】光磁気ディスク媒体に記録されている情報を読み取る際に使用される光学ヘッドの組立て途中において波長板が正確に組立てられているかを検査する方法に関し、簡易な方法で正確に光学ヘッド中の波長板の向きを検査可能とすることを目的とする。【構成】光磁気ディスク媒体で反射されて来た信号光の偏光角を回転させて偏光ビームスプリッタ9に入射するための波長板8を備えた光学ヘッドにおいて、該波長板8の組み込み方向を検査する際に、 直線偏光16を発する光源14と前記の被検査波長板8との間に、検査用の波長板15を配置することで(または直線偏光16を発生する光源14を、その光軸の回りに回転させることで)、被検査波長板8に入射する直線偏光17を予め所定の角度回転させ、 偏光ビームスプリッタ9の透過光と反射光との光量に大きな差が発生するように構成する。
請求項（抜粋）：
光磁気ディスク媒体で反射されて来た信号光の偏光角を回転させて偏光ビームスプリッタ9に入射するための波長板8を備えた光学ヘッドにおいて、該波長板8の組み込み方向を検査する際に、直線偏光16を発する光源14と前記の被検査波長板8との間に、検査用の波長板15を配置することで、被検査波長板8に入射する直線偏光17を予め所定の角度偏光させ、偏光ビームスプリッタ9の透過光と反射光との光量に大きな差が発生するようにしたことを特徴とする光学ヘッドの検査方法。
引用特許：
前のページに戻る
