特許
J-GLOBAL ID：200903001194180820

撮像素子、撮像装置及び状態検査システム

発明者：
倉根 治久

倉根 治久 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (3件)： 森 哲也 ,  内藤 嘉昭 ,  坊野 康博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-316863
公開番号（公開出願番号）：特開2009-141739
出願日： 2007年12月07日
公開日（公表日）： 2009年06月25日
要約：
【課題】1フレームの撮像において、高フレームレートの画像と高画質な画像とを同時に得るのに好適な撮像素子及び撮像装置、並びに該撮像装置を備えた状態検査システムを提供する。【解決手段】状態検査システム1を、標準のN倍のフレームレートで各画素から画素信号を非破壊でN回読み出すと共に、該読み出した画素信号に基づき、標準露光時間に対応する標準撮像画像データと、標準のフレーム期間をN回の読み出しに応じてN個に分割してなる第1〜第Nサブフレーム期間にそれぞれ対応する高速撮像画像データとを生成する撮像装置100と、検査対象物を照明する照明装置200と、標準撮像画像データに基づき、照明装置200の光量を制御したり、検査対象物の色合いや質感を検出したり、高速撮像画像データに基づき、検査対象物の形状や動きを検出したりする情報処理装置400とを含む構成とした。【選択図】図1
請求項１：
受光した光を電荷に変換して蓄積する複数の光電変換素子が2次元マトリクス状に配設された構成の光電変換部を有する撮像素子であって、 標準露光時間に対応するフレームレートの各フレーム期間を第1〜第N(Nは2以上の自然数)の順にN個の期間に分割してなる、第1〜第Nサブフレーム期間における前記第1サブフレーム期間において、前記光電変換部の各光電変換素子に蓄積された電荷を空にする処理であるリセット処理を行うリセット処理手段と、 前記第1サブフレーム期間から第Nサブフレーム期間において、前記各光電変換素子に蓄積される電荷量に応じた電気信号からなる画素信号を、各サブフレーム期間において非破壊で読み出す画素信号読出手段と、を備えることを特徴とする撮像素子。
IPC (1件)：
H04N 5/335
FI (1件)：
H04N5/335 E
Fターム (8件)：
5C024AX01 ,  5C024CX04 ,  5C024CX54 ,  5C024CX61 ,  5C024CY01 ,  5C024GY31 ,  5C024HX41 ,  5C024JX44
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (3件)
  • 撮像装置、撮像システム及び撮像方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-014722   出願人：セイコーエプソン株式会社
  • 特開平2-050582
  • 撮像装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-281439   出願人：オリンパス光学工業株式会社

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