特許
J-GLOBAL ID:200903001253478782
周波数測定回路
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
土井 健二
, 林 恒徳
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-146216
公開番号(公開出願番号):特開2005-292155
出願日: 2005年05月19日
公開日(公表日): 2005年10月20日
要約:
【課題】短いカウント期間または低い周波数の基準クロックであっても、測定精度を高くすることができる周波数測定回路を提供する。【解決手段】入力信号Cinの所定波数を有するカウント期間において、カウントする重み付けをカウント期間の初期と終期、およびその他の時期とで変化させることにより、複数の周波数測定ユニットのカウント期間をずらして基準クロックをカウントするのと同じ結果を得る周波数測定回路である。【選択図】 図6
請求項(抜粋):
入力信号の周波数を測定する周波数測定回路において、
前記入力信号の所定波数を有するカウント期間において、基準クロックをカウントする周波数測定ユニットを有し、
前記周波数測定ユニットは、前記カウント期間の開始時と終了時のカウントの重み付け量を他の時より低くして、前記カウントをすることを特徴とする周波数測定回路。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (3件):
2G029AA01
, 2G029AD07
, 2G029AH01
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (4件)
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特表昭61-501528
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特表昭61-501528
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特開平2-287114
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