特許
J-GLOBAL ID：200903001259899933

X線検出装置及びX線診断システム

発明者：
青木 邦夫

青木 邦夫 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-131841
公開番号（公開出願番号）：特開2003-322681
出願日： 2002年05月07日
公開日（公表日）： 2003年11月14日
要約：
【要約】【課題】 予測された撮影線線量範囲に外れて撮影された場合であっても、診断、観察に好適なX線画像を提供可能であり、操作者に負担、患者の余分な被曝を低減させる線平面検出システム、及びX線診断システムを提供すること。【解決手段】 画素134の画素電極に蓄積された電荷を読み出す際に、まず、ゲートドライバ131によりTFT133のゲート駆動信号を制御して、画素電極に蓄積された電荷を数分の1乃至数百分の1程度を仮読みする。この仮読みによって読み出されたデータを用いて、ゲイン制御部17内のゲイン計算設定部171は、積分アンプ136の最適なアンプゲインを計算して設定する。上記仮読みに続いて、ゲートドライバ131によりTFT133のゲート駆動信号を制御して、画素電極の残りの電荷を本読みし、画像を生成する。
請求項（抜粋）：
入射したX線を電荷に変換するX線変換手段と、前記X線変換手段によって変換された電荷を蓄積する複数の電荷蓄積手段と、前記蓄積手段毎に設けられ、当該蓄積手段からの蓄積電荷の読み出しを制御するスイッチング素子と、前記蓄積手段の蓄積電荷の一部を読み出す第1の形態、及び当該第1の読み出し処理後に前記前記蓄積手段に残存する蓄積電荷を読み出す第2の形態にて、前記各スイッチング素子を制御する読み出し制御手段と、前記読み出された電荷を、所定の増幅率にて増幅し信号を生成するアンプと、前記第1の形態によって読み出された第1の電荷に基づいて、前記第2の形態おいて設定すべき前記アンプの増幅率を推定する推定手段と、前記第2の形態による読み出しにおいて、前記推定手段によって推定された増幅率を前記アンプに設定するゲイン制御手段と、を具備することを特徴とするX線検出装置。
IPC (7件)：
G01T 1/24 ,  A61B 6/00 300 ,  A61B 6/00 320 ,  G01T 1/00 ,  H01L 27/14 ,  H04N 7/18 ,  G01T 1/20
FI (7件)：
G01T 1/24 ,  A61B 6/00 300 S ,  A61B 6/00 320 Z ,  G01T 1/00 B ,  H04N 7/18 L ,  G01T 1/20 E ,  H01L 27/14 K
Fターム (47件)：
2G088EE01 ,  2G088FF02 ,  2G088GG19 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ05 ,  2G088KK05 ,  2G088KK06 ,  2G088KK18 ,  2G088KK24 ,  2G088LL12 ,  2G088LL15 ,  2G088LL17 ,  2G088LL27 ,  4C093AA16 ,  4C093CA09 ,  4C093CA17 ,  4C093CA34 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093EC16 ,  4C093FA32 ,  4C093FA34 ,  4C093FA43 ,  4C093FC02 ,  4C093FC04 ,  4C093FC17 ,  4C093FC18 ,  4C093FC19 ,  4C093FC23 ,  4C093FD09 ,  4C093FF34 ,  4C093FF36 ,  4C093FH02 ,  4M118AA02 ,  4M118AB01 ,  4M118BA05 ,  4M118FB03 ,  4M118FB09 ,  4M118FB13 ,  4M118FB16 ,  4M118GA10 ,  5C054AA01 ,  5C054CA02 ,  5C054EA01 ,  5C054EA05 ,  5C054ED03 ,  5C054HA12
引用特許：
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM