特許
J-GLOBAL ID:200903001331110819

粒子測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 野河 信太郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-145442
公開番号(公開出願番号):特開平10-332569
出願日: 1997年06月03日
公開日(公表日): 1998年12月18日
要約:
【要約】【課題】 簡単な構成にてシース液の流速の変動を確実に監視又は安定化させ、それによって信頼性の高い計測精度を維持すること。【解決手段】 試料をシース液で包み、試料とシース液を流体力学的に収束して流し、試料中の粒子からの信号情報により測定を行う粒子測定装置において、試料を計測して得られた粒子信号パルス幅と、その試料の粒子信号パルス幅の基準値とを比較し、その比較値に基づいて、シース液流速を監視する監視部を備えてなる粒子測定装置。
請求項(抜粋):
試料をシース液で包み、試料とシース液を流体力学的に収束して流し、試料中の粒子からの信号情報により測定を行う粒子測定装置において、試料を計測して得られた粒子信号パルス幅と、その試料の粒子信号パルス幅の基準値とを比較し、その比較値に基づいて、シース液流速を監視する監視部を備えてなる粒子測定装置。
IPC (2件):
G01N 15/14 ,  G01N 15/12
FI (4件):
G01N 15/14 A ,  G01N 15/14 L ,  G01N 15/12 B ,  G01N 15/12 J

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