特許
J-GLOBAL ID:200903001384262360

X線検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 有我 軍一郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-132483
公開番号(公開出願番号):特開2006-308467
出願日: 2005年04月28日
公開日(公表日): 2006年11月09日
要約:
【課題】 物理量測定結果をそれに対応するX線画像と関連付けた測定結果の把握容易な表示を行なうことができるX線検査装置を提供する。 【解決手段】 X線源2と、X線検出部4と、データ処理部6と、表示部20とを備えたX線検査装置において、X線検出部4からの検出情報のうち一部を抽出して少なくともX線画像の背景に相当する部分を除いた物理量測定領域のX線画像をデータ処理部6のX線画像生成部11に生成させる領域抽出処理部8と、この領域抽出処理部8で抽出された検出情報に基づいてワークWの大きさ又は質量に対応する物理量を算出する質量算出部13と、物理量測定領域のX線画像と質量算出部13で算出された物理量を示すグラフ表示要素とを関連付けて表示部20に表示させる表示データ生成部15とを設ける。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
被検査物(W)にX線を照射するX線源(2)と、 該被検査物の各部を透過したX線の透過量を検出するX線検出手段(4)と、 前記X線検出手段からの検出情報に基づいて前記X線の透過量に対応するX線画像を生成する画像生成手段(11)と、 前記画像生成手段で生成されたX線画像を表示する表示手段(20)と、を備えたX線検査装置において、 前記X線検出手段からの検出情報のうち一部を抽出して少なくとも前記X線画像の背景に相当する部分を除いた物理量測定領域のX線画像を前記画像生成手段に生成させる領域抽出手段(8)と、 前記領域抽出手段で抽出された検出情報に基づいて前記被検査物の大きさ又は質量に対応する物理量を算出する物理量算出手段(13)と、 前記物理量測定領域のX線画像と前記物理量算出手段で算出された前記物理量を示すグラフ表示要素(22,23,24,25,26,32,33,34,35,36,37,42,48)とを関連付けて前記表示手段に表示させる表示制御手段(15)と、を設けたことを特徴とするX線検査装置。
IPC (3件):
G01B 15/00 ,  G01G 23/36 ,  G01N 23/04
FI (3件):
G01B15/00 A ,  G01G23/36 D ,  G01N23/04
Fターム (35件):
2F067AA21 ,  2F067AA26 ,  2F067AA27 ,  2F067AA57 ,  2F067AA58 ,  2F067EE05 ,  2F067FF08 ,  2F067GG07 ,  2F067HH04 ,  2F067JJ03 ,  2F067KK06 ,  2F067LL03 ,  2F067PP15 ,  2F067RR35 ,  2F067SS15 ,  2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA08 ,  2G001FA00 ,  2G001FA01 ,  2G001FA02 ,  2G001FA06 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001JA16 ,  2G001KA05 ,  2G001KA20 ,  2G001LA01 ,  2G001PA11 ,  2G001SA12
引用特許:
出願人引用 (3件)
  • X線検査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-335214   出願人:株式会社イシダ, 株式会社東研
  • X線異物検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-325780   出願人:アンリツ株式会社
  • 実公平6-7331号公報
審査官引用 (6件)
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