特許

J-GLOBAL ID：200903001403637922

回路測定用端子およびその製造方法

発明者： 寺崎 隆一 ,  照井 良典 ,  渡辺 徹 ,  奥村 勝弥
出願人/特許権者： 電気化学工業株式会社 ,  株式会社東芝
代理人 (1件)： 山下 穣平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-056358
公開番号（公開出願番号）：特開平5-215774
出願日： 1992年02月06日
公開日（公表日）： 1993年08月24日
要約：

【要約】【目的】 基体面と電気的に絶縁して針状結晶を形成する。【構成】 絶縁面上の所望の位置から成長された針状結晶3を用いた回路測定用端子。

請求項（抜粋）：

絶縁面上の所望の位置に成長された針状結晶を用いたことを特徴とする回路測定用端子。

IPC (2件)：

G01R 1/073 ,  H01L 21/66

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 回路測定用端子およびその製造方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-008373   出願人：株式会社東芝, 電気化学工業株式会社
• 特開平2-016404
  
• 特開昭50-037350
  
• 特表昭63-502786
  
• 特開平3-209103