特許
J-GLOBAL ID：200903001421529193
垂直加速型飛行時間型質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-036180
公開番号（公開出願番号）：特開2001-229875
出願日： 2000年02月15日
公開日（公表日）： 2001年08月24日
要約：
【要約】【課題】OA/TOFMSの高次の収差係数に由来する時間収束性の悪化を回避することのできるOA/TOFMSを提供する。【解決手段】イオンをイオン溜に導入する導入光学系の光軸をイオン溜の中心軸から所定の距離だけY方向にずらして配置した。また、イオンの飛行空間全体に印加されている加速電圧、イオン押し出しプレートと第1のグリッドの間の電位差、第1のグリッドと第2のグリッドの間の電位差、およびリフレクター電圧の内の少なくとも1つの値を変更することによって、OA/TOFMSの分解能を制御するようにした
請求項（抜粋）：
質量分析装置に対してイオンを供給する外部イオン源と、外部イオン源の後段に配置され、イオン押し出しプレートと第1のグリッドにより構成されるイオン溜と、第1のグリッドと第2のグリッドで構成され、イオン押し出しプレートによってイオン溜から押し出されたイオンを加速するイオン加速部と、加速されたイオンを質量分離するリフレクター飛行時間型分光部と、質量分離されたイオンを検出するイオン検出器とから成る垂直加速型飛行時間型質量分析装置において、イオンをイオン溜に導入する導入光学系の光軸をイオン溜の中心軸から所定の距離だけY方向にずらして配置したことを特徴とする垂直加速型飛行時間型質量分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H01J 49/40
, G01N 27/62 K
