特許
J-GLOBAL ID：200903001439346185
光スイッチモジュールの検査装置および検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
泉名 謙治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-078631
公開番号（公開出願番号）：特開平5-240734
出願日： 1992年02月28日
公開日（公表日）： 1993年09月17日
要約：
【要約】【目的】1個以上の光入力端と1個以上の光出力端を有し光伝送路50で接続される光スイッチモジュール1の検査の機械的接続不安定性を低減し安定せしめ、検査データの高速処理を可能とし省力化する。【構成】計測部30、光源20、光路切換器10を設け、電気的インターフェースで遠隔制御部2から集中制御し検査を行いデータ処理する。
請求項（抜粋）：
1個以上の光入力端と、1個以上の光出力端を有する光スイッチモジュールの検査装置において、光源と、受光手段を有する計測部とがあり、光源と光スイッチモジュールとの間および計測部と光スイッチモジュールの間の少なくとも一方に、1個以上の光路切換器を設けてなることを特徴とする検査装置。
IPC (3件)：
G01M 11/00
, G01D 21/00
, G08C 23/00
