特許

J-GLOBAL ID：200903001456571834

距離測定装置、及び距離測定方法

発明者： 青山 千秋
出願人/特許権者： 本田技研工業株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-328284
公開番号（公開出願番号）：特開2002-131016
出願日： 2000年10月27日
公開日（公表日）： 2002年05月09日
要約：

【要約】【課題】 撮像するカメラのダイナミックレンジを変えることなく、近い物体から遠い物体までを測定することができる光切断法を用いた距離測定装置を提供する。【解決手段】 自己が発したスリット光の反射光を撮像し、スリット光の発光位置と撮像位置の位置関係から測定対象物体までの距離を測定する距離測定装置であって、スリット光の物体表面における反射光を撮像する画像取得手段と、画像取得手段の走査時間内おいて発せられるスリット光の発光時間を制御して画像取得手段における受光強度を変化させる発光制御手段とを備える。

請求項（抜粋）：

自己が発したスリット光の反射光を撮像し、スリット光の発光位置と撮像位置の位置関係から測定対象物体までの距離を測定する距離測定装置であって、前記距離測定装置は、前記スリット光の前記物体表面における反射光を撮像する画像取得手段と、前記画像取得手段の走査時間内おいて発せられるスリット光の発光時間を制御して前記画像取得手段における受光強度を変化させる発光制御手段と、を備えたことを特徴とする距離測定装置。

IPC (5件)：

G01B 11/00 ,  G01B 11/24 ,  G01B 11/25 ,  G01C 3/06 ,  G01S 17/46

FI (5件)：

G01B 11/00 H ,  G01C 3/06 Z ,  G01S 17/46 ,  G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 E

Fターム (46件)：

2F065AA06 ,  2F065AA24 ,  2F065AA51 ,  2F065CC00 ,  2F065DD06 ,  2F065EE00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065FF63 ,  2F065GG04 ,  2F065GG08 ,  2F065HH05 ,  2F065HH06 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL08 ,  2F065LL42 ,  2F065NN02 ,  2F065NN08 ,  2F065NN20 ,  2F065PP25 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ05 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F112AD03 ,  2F112CA04 ,  2F112CA12 ,  2F112DA13 ,  2F112DA19 ,  2F112DA25 ,  2F112FA07 ,  2F112FA21 ,  2F112FA45 ,  5J084AA05 ,  5J084AD05 ,  5J084AD07 ,  5J084BA03 ,  5J084BA34 ,  5J084BB02 ,  5J084BB07 ,  5J084CA03 ,  5J084EA04