特許

J-GLOBAL ID：200903001467063091

メモリ診断装置

発明者： 岡本 啓二
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-254167
公開番号（公開出願番号）：特開平7-110790
出願日： 1993年10月12日
公開日（公表日）： 1995年04月25日
要約：

【要約】【目的】 メモリ診断時間を短縮する。【構成】 複数のブロックから構成されるメモリにおいてブロックの同一アドレスに対して同時にデータを読み書きする手段2と、データの期待値を格納する手段3と、メモリから読み出したデータと期待値を比較する手段をブロック毎に設けることにより、全てのブロックを同時に診断できるメモリ診断装置である。【効果】 本発明のメモリ診断方式を用いることにより、メモリ容量を増加させる場合でもブロックサイズを変化させずに同一サイズのブロック数を増せば、診断に必要な時間は増加しない。

請求項（抜粋）：

複数のブロックから構成されるメモリにおいて、前記ブロックの同一アドレスに対して同時にデータを読み書きする手段と、データの期待値を格納する手段と、前記ブロックから読み出したデータと期待値を比較する手段と、前記ブロックの比較結果を格納する手段を有することを特徴とするメモリの診断装置。