特許

J-GLOBAL ID：200903001501274153

曲線検出処理方法

発明者： 森本 正志 ,  末永 康仁
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 森田 寛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-056611
公開番号（公開出願番号）：特開平6-266839
出願日： 1993年03月17日
公開日（公表日）： 1994年09月22日
要約：

【要約】【目的】画像平面やパラメータ空間の量子化の単位サイズによらず,安定かつ高精度に曲線を検出できるようにすることを目的とする。【構成】画像内の各々の点から得られるパラメータ群に対して,そのパラメータが包含しうる量子化誤差の確率分布を求める。次に,その確率分布に基づいて可変フィルタの特性を決定する。そして,その可変フィルタを得られたパラメータ群に施すことによって,パラメータ群の値の分布を生成する。その分布にしたがってパラメータ空間への累積処理を行い,最終的にパラメータ空間内に生成されたヒストグラムのピークに対応するパラメータ群の値をもとに曲線の形状を得る。

請求項（抜粋）：

曲線の形状を決定するパラメータ群が画像内に出現する頻度を計測するためのパラメータ空間を表すパラメータデータ記憶部としてのアキュムレータ配列と,そのパラメータ群の値に基づき特性を計算する可変フィルタ特性計算部およびその特性に基づきパラメータデータ記憶部への処理を行う可変フィルタ処理部の2つから構成される可変フィルタとを用い,画像内の各画素に対してパラメータ群の値を求め,その値を基に可変フィルタの特性を決定し,その可変フィルタをパラメータ群に施すことによって得られた分布に従いアキュムレータ配列内で累積処理を行い,最終的にアキュムレータ配列内で生成されたヒストグラムのピークを基に画像内の主要曲線を求めることを特徴とする曲線検出処理方法。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平4-349583
  
• 特開平1-233578
  
• 特開平3-188577
  
• 特開昭59-133414