特許

J-GLOBAL ID：200903001558495962

積層型光電変換素子の測定方法および装置

発明者： 松山 深照
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (2件)： 渡辺 敬介 ,  山口 芳広
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-064312
公開番号（公開出願番号）：特開2004-273870
出願日： 2003年03月11日
公開日（公表日）： 2004年09月30日
要約：

【課題】積層型光電変換素子の電流電圧特性を正確に測定できる方法および装置を提供する。【解決手段】基準太陽光に疑似した光に、積層型光電変換素子を構成する各コンポーネントセルの分光感度が極大となる波長λ(Qmax,n)に対し、±15%以内の波長に、輝線を除いた光強度の極大値あるいは極小値を持ち、かつ輝線を除いた光強度変化の半値幅が、各コンポーネントセルの分光感度の波長に対する変化の半値幅以下である、各コンポーネントセルの数に対応した数の重畳光を付加し、前記各重畳光の光強度を調整することによって、各コンポーネントセル内で発生する光電流を調整した後、電流電圧特性を測定する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

少なくとも2つ以上のコンポーネントセルを含む積層型光電変換素子の電流電圧特性の測定方法に於いて、基準太陽光に疑似した光に、前記各コンポーネントセルの分光感度が極大となる波長に対し、±15%以内の波長に、輝線を除いた光強度の極大値あるいは極小値を持ち、かつ輝線を除いた光強度変化の半値幅が、前記各コンポーネントセルの分光感度の波長に対する変化の半値幅以下である、前記各コンポーネントセルの数に対応した数の重畳光を付加し、前記各重畳光の光強度を調整することによって、前記各コンポーネントセル内で発生する光電流を調整した後、電流電圧特性を測定することを特徴とする積層型光電変換素子の電流電圧特性の測定方法。

IPC (2件)：

H01L31/04 ,  G01R31/26

FI (2件)：

H01L31/04 K ,  G01R31/26 F

Fターム (6件)：

2G003AA06 ,  2G003AB01 ,  2G003AD05 ,  2G003AH05 ,  5F051KA09 ,  5F051KA10