AF測距光学系

発明者： , , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：三浦邦夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-066230
公開番号（公開出願番号）：特開2001-255459
出願日： 2000年03月10日
公開日（公表日）： 2001年09月21日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】光波距離計を有する測量機をAF化するにつき、AF性能を低下させることのないAF測距光学系を得る。【解決手段】測定対象物を視準する望遠鏡を介して測距光を送光する送光系と、測定対象物16からの反射光を受光する受光系とを有する光波距離計であって、視準望遠鏡10を介して焦点状態を検出する手段及び検出した焦点状態に基づいて視準望遠鏡を自動焦点調節する制御手段40を備え、焦点検出手段は視準望遠鏡手段の対物レンズ上に設定された異なる一対の瞳範囲を通過した光束により結像された一対の像でピント位置を検出する位相差方式の焦点検出手段とし、光波距離計20の構成要素と干渉しないように設定したAF測距光学系。

請求項（抜粋）：

測定対象物を視準する視準望遠鏡;この視準望遠鏡を介して測距光を送光する送光系と、測定対象物からの反射光を受光する受光系とを有する光波距離計;上記視準望遠鏡を介してその焦点状態を検出する焦点検出手段;及びこの焦点検出手段によって検出した焦点状態に基づいて上記視準望遠鏡を自動焦点調節する制御手段;を備え、上記焦点検出手段は、視準望遠鏡の対物レンズ上に設定された異なる一対の瞳範囲を通過した光束により結像された一対の像でピント位置を検出する位相差方式の焦点検出手段であり、上記光波距離計の構成要素は、この位相差方式焦点検出手段の一対の瞳範囲と干渉しない位置に設けられていることを特徴とするAF測距光学系。

IPC (5件)：

G02B 7/34 , G01C 3/06 , G02B 7/40 , G02B 7/28 , G02B 23/06

FI (5件)：

G01C 3/06 Z , G02B 23/06 , G02B 7/11 C , G02B 7/11 F , G02B 7/11 H

Fターム (26件)：

2F112AD10 , 2F112BA06 , 2F112CA12 , 2F112DA01 , 2F112DA04 , 2F112DA10 , 2F112DA13 , 2F112DA19 , 2F112DA21 , 2F112DA30 , 2H039AA01 , 2H039AB14 , 2H039AB22 , 2H039AB66 , 2H039AB68 , 2H051AA12 , 2H051BA04 , 2H051BB27 , 2H051CA01 , 2H051CA06 , 2H051CB04 , 2H051CB06 , 2H051CB11 , 2H051CB13 , 2H051CB20 , 2H051DA02

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