特許
J-GLOBAL ID：200903001613374002
光パルス試験器
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
澤井 敬史
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-015887
公開番号（公開出願番号）：特開平5-209811
出願日： 1992年01月31日
公開日（公表日）： 1993年08月20日
要約：
【要約】【目的】コヒーレント検波方式を用いる光パルス試験器において、後方散乱波形上のフェージングノイズが小さい光パルス試験器を提供すること。【構成】光周波数制御部16により、半導体レーザ14の温度を変化させると同時に、振動発生器20の振動を狭線幅化用光ファイバ15に付与することで、光周波数が所定周期毎に変化する試験信号光a及びローカル信号光bを発生させる。この試験信号光aをパルス化して被試験光ファイバ5に入射し、この被試験光ファイバ5からの反射光及び後方散乱波光cとローカル信号光bとを合分岐器6により合波してビート信号光dを生成する。このビート信号光dを受光器7で電気信号に変換し、加算処理した後、後方散乱波形をCRT11に表示する。【効果】後方散乱波形上のフェージングノイズが低減され、被試験光ファイバ5の途中に接続箇所や光損失の変化する箇所があれば、後方散乱波形上で段差として判別できる。
請求項（抜粋）：
試験信号光およびローカル信号光の信号光発生手段と、前記試験信号光を一定周期にパルス化して所定周期ごとに被試験光ファイバに繰り返して送出する光パルス生成手段と、前記被試験光ファイバから繰り返し戻ってくる反射光及び後方散乱光と前記ローカル信号光とを光学的に合波してビート信号光を得る光合波手段と、このビート信号光を受光して電気信号に変換する光電気変換手段と、この電気信号を加算処理する加算処理手段と、この加算処理の結果に基づいて前記反射光及び後方散乱光の波形を表示する表示手段とを備えた光パルス試験器において、前記試験信号光及びローカル信号光を発生させる信号光発生手段は光源と該光源に接続された光ファイバを有し、該光ファイバの屈折率等の光ファイバパラメータもしくは長さもしくはレーリー散乱係数などに変動を加える変動付与手段を具備することを特徴とする光パルス試験器。
IPC (2件)：
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