特許

J-GLOBAL ID：200903001731829430

バッテリ試験装置及び同試験装置を内蔵した電力装置

発明者： 小津 清嗣 ,  小林 公禎 ,  佐々木 正博 ,  高野 和夫 ,  尾形 努 ,  河野 勝 ,  稲垣 伸夫 ,  山野 佳哉 ,  多田 幸生
出願人/特許権者： 新電元工業株式会社 ,  日本電信電話株式会社 ,  株式会社アフティ ,  日本電池株式会社
代理人 (1件)： 川井 治男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-294100
公開番号（公開出願番号）：特開平7-128414
出願日： 1993年10月29日
公開日（公表日）： 1995年05月19日
要約：

【要約】【目的】 本発明は、比較的低速のサンプルホールド回路及びAD変換器でサンプリングを行い、例えばコンデンサと抵抗からなる積分回路でフィルタ効果を利用し、サンプリングポイント及びサンプリングされた検出データ数を少なくすることで、データ蓄積専用RAMを削減、システムを小型化し、さらに高周波ノイズに強くしたバッテリ試験装置、および同試験装置を内蔵して、信頼性の向上を計った電力装置を提供することを目的とする【構成】 バッテリ電圧検出回路からの出力信号とバッテリ電流検出回路からの出力信号は、1組のマルチプレクサにより交互に切替えられ、1組の低速のサンプルホールド回路によりホールドされた後、1組のAD変換器によりディジタル信号に変換され、データ蓄積専用RAMにより保管することなく、直接マイクロプロセッサの周辺として位置づけられたRAMに保管し、ディジタルデータを一括処理するように構成したバッテリ試験装置及び同試験装置を内蔵した電力装置。

請求項（抜粋）：

バッテリ端子により、バッテリ電圧とバッテリ充電電流又は放電電流を検出し、前記バッテリの内部抵抗を算出し、該バッテリの残容量判定又は劣化判定を行うバッテリ試験装置に於いて、前記バッテリ電圧検出回路からの出力信号と前記バッテリ電流検出回路からの出力信号は、1組のアナログマルチプレクサにより交互に切替え入力された後、1組の低速のサンプルホールド回路により、前記アナログマルチプレクサからの出力信号はホールドされた後、1組のAD変換器によりディジタル信号に変換され、直接マイクロプロセッサの周辺として位置づけられたRAMに保管し、該RAMに保管されたディジタルデータを前記マイクロプロセッサで一括処理することにより、前記バッテリ残容量判定又は劣化判定を行うことを特徴とするバッテリ試験装置。