特許
J-GLOBAL ID：200903001754356644
距離測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
市村 健夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-066550
公開番号（公開出願番号）：特開平7-248374
出願日： 1994年03月10日
公開日（公表日）： 1995年09月26日
要約：
【要約】【目的】 送受信光学系に付着した汚れの検出可能で、かつ部品の増大を招かず、高い測距精度が維持された距離測定装置を提供する。【構成】 参照物体10が送受信光学系2、3の前に設けられ、光源1からの光パルスは反射されて受光手段4で参照信号を出力する。参照信号の大きさは計量手段17で計量され、その大きさに基づき送受信光学系2、3の前面の汚れを検知する。参照信号の出力時間は計時手段13で計測され、距離演算手段16は参照信号の出力時間により往復時間を補正して距離を演算する。
請求項（抜粋）：
点灯タイミング信号に対応して光パルスを発生する光源と、前記光パルスを対象物へ送光する送光レンズと、前記対象物で反射した前記光パルスを受光する受光レンズと、前記光パルスを光電変換して受信信号を出力する受光手段と、前記点灯タイミング信号の出力時間及び前記受信信号の出力時間を計測する計時手段と、前記計時手段により計測された前記光パルスの前記対象物までの往復時間から前記対象物までの距離を演算する距離演算手段とを具備する距離測定装置において、前記送光レンズから送光される光パルスの光路と前記受光レンズに受光される光パルスの光路とが重畳した位置に配置された参照物体と、前記参照物体で反射した前記光パルスを受けて前記受光手段が出力する参照信号の大きさを計量する計量手段と、前記計量手段により計量された前記参照信号の大きさに基づき、前記送光レンズ又は前記受光レンズの前面の汚れを検知する汚れ検知手段とを具備することを特徴とする距離測定装置。
IPC (2件)：
前のページに戻る
