特許

J-GLOBAL ID：200903001756997914

自動分析装置

発明者： 甲斐 奨 ,  三巻 弘 ,  大石 忠 ,  塙 雅明 ,  渡辺 洋 ,  黒田 晃 ,  大森 登喜男
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-243683
公開番号（公開出願番号）：特開平11-083864
出願日： 1997年09月09日
公開日（公表日）： 1999年03月26日
要約：

【要約】【課題】複数の分析モジュールを有する自動分析装置において、分析モジュールの配置場所が変えられるように簡単な構成でレイアウトの変更を容易にする。【解決手段】各分析モジュール7,19に対応してベルトライン3a,3bを設け、湾曲搬送ユニット27を分析モジュール間に配置することにより、検体ラックの搬送方向を変更する。

請求項（抜粋）：

複数の分析モジュールに検体搬送ラインを介して検体ラックが立ち寄るように構成した自動分析装置において、各分析モジュールにそれぞれ対応するベルトラインを設け、該ベルトライン間を接続するように湾曲した検体ラック搬送路を有する湾曲搬送ユニットを配置したことを特徴とする自動分析装置。