特許
J-GLOBAL ID:200903001758955097

自動超音波探傷方法及び自動超音波探傷装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 後藤 洋介 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-222310
公開番号(公開出願番号):特開2001-050938
出願日: 1999年08月05日
公開日(公表日): 2001年02月23日
要約:
【要約】【課題】 母材溶接部と肉盛り溶接部の同時探傷を可能とする自動超音波探傷装置を提供すること。【解決手段】 溶接継ぎ手部10に対して、TOFD法による超音波探傷とPA法による超音波探傷とを同時に行うものであり、PA法においては、前記溶接継ぎ手部の幅方向にわたるように超音波送受信用振動子をリニアに多数配列して成るアレイプローブ21を用いて肉盛り溶接部11及び母材溶接部12に対する超音波探傷を行い、前記TOFD法においては、前記アレイプローブに隣接し、かつ前記肉盛り溶接部をまたぐように設けられた2対の送信探触子及び受信探触子を用いて前記母材溶接部に対する超音波探傷を行う。
請求項(抜粋):
溶接継ぎ手部に対して、TOFD(Time of Flight Diffraction)法による超音波探傷とPA(PhasedArray)法による超音波探傷とを同時に行うことを特徴とする自動超音波探傷方法。
IPC (2件):
G01N 29/10 505 ,  B23K 31/00
FI (2件):
G01N 29/10 505 ,  B23K 31/00 L
Fターム (9件):
2G047AA07 ,  2G047AB07 ,  2G047AC02 ,  2G047BC07 ,  2G047GA13 ,  2G047GB02 ,  2G047GB24 ,  2G047GF06 ,  2G047GF22
引用特許:
審査官引用 (6件)
  • 電子走査式超音波検査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-162578   出願人:日立建機株式会社
  • 特開平4-151553
  • 特開昭57-147054
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