特許
J-GLOBAL ID:200903001773977790

X線反射用ミラーおよびその製法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高田 守 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-233185
公開番号(公開出願番号):特開平5-070267
出願日: 1991年09月12日
公開日(公表日): 1993年03月23日
要約:
【要約】【目的】 粒界段差がミラー面に生じて表面粗さが粗くなるのを解決し、表面が超平滑で高反射率であり、耐熱衝撃性に優れたX線反射用ミラーおよびその製法を提供する。【構成】 再結晶質のSiC基材に多結晶のSiC膜をコーティングして研削加工および鏡面研磨し、再度その表面に単結晶またはアモルファスのSiC膜をコーティングして研磨加工により鏡面としたX線反射用ミラーの製法。
請求項(抜粋):
多結晶のSiCの表面に、単結晶またはアモルファスのSiC膜をコーティングした構造を有することを特徴とするX線反射用ミラー。
IPC (4件):
C04B 41/87 ,  C04B 35/56 101 ,  C30B 29/36 ,  G02B 5/08

前のページに戻る