特許

J-GLOBAL ID：200903001791774014

計測用回路

発明者： 中村 克俊 ,  田中 敦
出願人/特許権者： 株式会社日本アレフ
代理人 (1件)： 平山 一幸 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-166173
公開番号（公開出願番号）：特開平5-113421
出願日： 1991年06月12日
公開日（公表日）： 1993年05月07日
要約：

【要約】【目的】 低コストで且つ比較的小型に構成され得る計測用回路を提供する。【構成】 バイアス電圧を与えるための可変抵抗とセンサ信号出力端子12a,12bを備えたセンサーブリッジ抵抗12と、センサ信号出力端子12a,12bからセンサ信号が入力される差動入力差動出力アンプ13と、差動入力差動出力アンプ13の二つの出力がそれぞれ入力されるコンパレータ14と、から構成されており、前記センサ信号の初期値を調整することにより、しきい値までのレベルを任意に設定できるようにした。

請求項（抜粋）：

バイアス電圧を与えるための可変抵抗とセンサ信号出力端子を備えたセンサーブリッジ抵抗と、該センサ信号出力端子からセンサ信号が入力される差動入力差動出力アンプと、該差動入力差動出力アンプの二つの出力がそれぞれ入力されるコンパレータと、から構成されており、前記センサ信号の初期値を調整することにより、しきい値までのレベルを任意に設定できるようにしたことを特徴とする計測用回路。

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭55-113904
  
• 特開昭58-018160