特許
J-GLOBAL ID：200903001823163969
はんだ付部表示方法並びにはんだ付部検査方法及びそれらのための装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
武 顕次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-303819
公開番号（公開出願番号）：特開平5-119026
出願日： 1991年10月24日
公開日（公表日）： 1993年05月14日
要約：
【要約】【目的】 回路基板の表面に存在するはんだ付部の接合状態の良否を、高速かつ高精度に表示または検査すること。【構成】 複数のトランスジューサ1はパルス状の超音波を回路基板2中に放射状に伝搬させ、はんだ付部3が存在する基板面で反射した超音波を検出する。検出データは正反射除去部14で散乱波成分が抽出され、反射率算出部15で散乱波強度の方向依存性が補正された後、画像再構成部17で反復累積演算が行われて、はんだ付接合界面における超音波反射強度の2次元画像が作成される。欠陥判定部19は、これをもとにはんだ付部の欠陥を判定する。
請求項（抜粋）：
基板上の部品のはんだ付部の接合状態を表示するはんだ付部表示方法において、基板または部品の被検査対象はんだ付部と反対側の表面の複数箇所の1箇所からトランスジューサによりパルス状の超音波を発生させて、反射した超音波を当該トランスジューサで検出して電気信号に変換し、この電気信号の時間波形を散乱反射率のデータに変換して記憶し、続いて上記複数箇所の他の1箇所から同様にトランスジューサによりパルス状の超音波を順次発生させて、上記と同様の処理を行って各散乱反射率のデータを順次記憶し、この記憶された複数の散乱反射率のデータの一つずつについて、被検査対象はんだ付部の存在する平面に対応する2次元平面内に対して、散乱反射率のデータが得られたそれぞれの時間に相当する距離に対応する位置に、上記散乱反射率のデータを分配する処理を繰り返し反復して実施して、上記2次元平面に分配された値を2次元明暗画像として表示することを特徴とするはんだ付部表示方法。
IPC (3件)：
G01N 29/10 505
, G01B 17/00
, H05K 3/34
