特許
J-GLOBAL ID：200903001824129691
液晶表示パネルの検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴木 晴敏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-184410
公開番号（公開出願番号）：特開平6-003636
出願日： 1992年06月18日
公開日（公表日）： 1994年01月14日
要約：
【要約】【目的】 アクティブマトリクス型液晶表示パネルの光学的検査において画素欠陥の検出を容易にする。【構成】 検査対象となる液晶表示パネル1は半完成品状態にあり製品用の偏光板は貼着されていない。液晶表示パネル1はマトリクス状に配列された複数個の画素電極とこの画素電極に接続された薄膜トランジスタとを有する下側基板2と、対向電極を有し下側基板2に対向配置された上側基板3と、両方の基板2,3に保持された液晶層とから構成されている。この液晶表示パネル1を両側から検査の為に用意された一対の偏光板を介在させて光学検査を行なうに際して、欠陥画素を反転する様に一方の固定偏光板5に対して他方の検光子偏光板7を回転して欠陥画素を容易に検出できる様にした。
請求項（抜粋）：
マトリクス状に配列された複数個の画素電極とこの画素電極に接続された薄膜トランジスタとを有する一方の基板と、対向電極を有し前記一方の基板に対向配置された他方の基板と、両方の基板に保持された液晶層とを備えた液晶表示パネルを両側から一対の偏光板を介在させて光学検査を行なうに際して、欠陥画素を反転する様に一方の固定偏光板に対して他方の検光子偏光板を回転して欠陥画素を検出する事を特徴とする液晶表示パネルの検査方法。
IPC (2件)：
G02F 1/13 101
, G09G 3/36
