特許

J-GLOBAL ID：200903001834025932

半導体測定装置

発明者： 田中 完和 ,  須藤 優子
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 村上 博 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-016847
公開番号（公開出願番号）：特開2001-208805
出願日： 2000年01月26日
公開日（公表日）： 2001年08月03日
要約：

【要約】【課題】 論理シミュレーション結果とデバイスの入出力状態を対応付けることにより、デバッグの効率を向上させる。【解決手段】 デ-タ変換部2によって論理シミュレーション結果に基づきテストパターンを作成し、テストコントローラ4はテストパターンに基づきデバイス5をテストさせ、波形表示部6はデバイス5のデータ及び論理シミュレーションデータの波形を重ね合わせて表示すると共に、両者の波形を自動比較して評価するようにする。

請求項（抜粋）：

論理シミュレーション結果に基づきテストパターンを作成する手段と、上記テストパターンに基づきデバイスをテストさせる手段と、上記デバイスからのデータ及び論理シミュレーションデータのうち表示したい該当時間の波形を重ね合わせて表示すると共に、任意の時点での波形をズームアップして表示し、更に両者の波形の自動比較による不一致情報を表示する手段とを設けたことを特徴とする半導体測定装置。

IPC (2件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/3183

FI (4件)：

G01R 31/28 D ,  G01R 31/28 F ,  G01R 31/28 Q ,  G01R 31/28 H

Fターム (8件)：

2G032AC03 ,  2G032AC08 ,  2G032AD05 ,  2G032AD07 ,  2G032AE08 ,  2G032AE11 ,  2G032AG04 ,  2G032AL00