特許
J-GLOBAL ID：200903001844167298
セル損失・誤配試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 文廣 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-309997
公開番号（公開出願番号）：特開平6-164626
出願日： 1992年11月19日
公開日（公表日）： 1994年06月10日
要約：
【要約】【目的】 パケット通信のセルの損失,誤配を測定するセル損失・誤配試験装置に関し,セルの受信側でテストデータを生成することを目的とする。【構成】 セル損失・誤配試験装置はセル損失・誤配テストデータ生成手段3を備え,セル損失・誤配テストデータ生成手段3は,到着セル入力部10と,到着セルカウント部11と,到着セルカウント部11のカウント値に応じて損失モードのテストデータを生成する損失テストデータ生成部12もしくは誤配モードのテストデータを生成する誤配テストデータ生成部13と,損失テストデータもしくは誤配テストデータを選択するテストモード選択部14と,テストモード選択部14が選択したテストデータに基づいて到着セルを無効とする無効フラグを生成する無効フラグ生成部15とを備える構成を持つ。
請求項（抜粋）：
データをパケット化して送受信するシステムにおけるセルの損失と誤配を試験するセル損失・誤配試験装置において,該セル損失・誤配試験装置はセルの損失と誤配のテストデータを生成するセル損失・誤配テストデータ生成手段(3) を備え,該セル損失・誤配テストデータ生成手段(3) は,正常な一連の試験セルを入力する到着セル入力部(10)と,到着セル数をカウントする到着セルカウント部(11)と,到着セルカウント部(11)のカウント値に応じて損失モードのテストデータを生成する損失テストデータ生成部(12)もしくは誤配モードのテストデータを生成する誤配テストデータ生成部(13)と,損失モードのテストデータもしくは誤配モードのテストデータを選択するテストモード選択部(14)と,テストモード選択部(14)が選択したテストデータに基づいて到着セルを無効とする無効フラグを生成する無効フラグ生成部(15)と,到着したセルと無効フラグを入力し無効フラグがセットされている場合は到着セルを無効とし,無効フラグがセットされていない場合は到着セルを有効とする損失・誤配テストデータ生成部(16)とを備え,損失・誤配テストデータを生成することを特徴とするセル損失・誤配試験装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04L 11/20 Z
, H04L 11/12
