特許
J-GLOBAL ID：200903001845940942
多光軸光電センサ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 強
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-091398
公開番号（公開出願番号）：特開2003-289244
出願日： 2002年03月28日
公開日（公表日）： 2003年10月10日
要約：
【要約】【課題】 他器から干渉光を受ける環境であっても、干渉光の影響を確実に回避することができる多光軸光電センサを提供する。【解決手段】 非投光期間において干渉光を検出できないスキャン動作が所定回数連続したときは、スキャン周期をランダムに可変する。これにより、干渉光を検出可能となり、通常の干渉回避動作で干渉を回避することができるようになる。この場合、スキャン周期をランダムに可変することから、他の多光軸光電センサと同一の干渉回避動作を実行してしまう可能性は極めて低い。
請求項（抜粋）：
検出エリアに向けて光を照射すべく一列状に配置された複数の投光素子と、これらの投光素子と対応して設けられ、前記検出エリアからの光を受光する複数の受光素子と、前記投光素子を所定の投光タイミングで順次走査するように投光させる投光期間と何れの前記投光素子も投光させない非投光期間からなるスキャン動作を繰返す投光駆動手段と、前記投光期間においては前記受光素子からの受光信号を対応する前記投光素子のタイミングに同期させて有効化し、前記受光素子からの受光信号に基づいて前記検出エリアにおける遮光状態を判断する判断手段と、前記非投光期間においては前記受光素子からの受光信号に基づいて干渉光の検出を行う干渉光検出手段と、この干渉光検出手段が干渉光を検出した場合、前記投光タイミングが干渉光と重ならないように前記投光駆動手段のスキャン周期を可変するスキャン周期可変手段とを備えた多光軸光電センサにおいて、乱数発生手段を備え、前記スキャン周期可変手段は、前記干渉光検出手段が干渉光を検出しないスキャン動作が所定回数連続したときは、前記投光駆動手段のスキャン周期を前記乱数発生手段に応じて決められる数値でランダムに可変することを特徴とする多光軸光電センサ。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H03K 17/78 S
, G01V 9/04 Q
5J050AA13
, 5J050BB17
, 5J050BB19
, 5J050EE35
, 5J050EE36
, 5J050EE39
, 5J050FF00
, 5J050FF02
, 5J050FF08
