特許
J-GLOBAL ID：200903001878432411

導電検査用プローブピン

発明者：
川俣 昇寛

川俣 昇寛 について


出願人/特許権者：
オプトレックス株式会社

オプトレックス株式会社 について


代理人 (1件)： 大原 拓也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-323791
公開番号（公開出願番号）：特開2008-139089
出願日： 2006年11月30日
公開日（公表日）： 2008年06月19日
要約：
【課題】1本の導電検査用プローブピンでありながら、検査用途に応じて、伸縮ピン,非伸縮ピンのいずれか一方として使用できるようにする。【解決手段】バレル20内に、一端に被検査物に接触する接触端子301を有するピン本体30の他端側が摺動可能に挿通され、ピン本体30がバレルに装着されているバネ手段210によりバレル20から突出する方向に付勢されている導電検査用プローブピン10において、ピン本体30をバレル20に対して選択的に非摺動状態とするピン固定手段(ピン本体30側に形成されている係合溝321と、バレル20の外側から係合溝321に解離可能に係合する係合突起410)を備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
バレル内に、一端に被検査物に接触する接触端子を有するピン本体の他端側が摺動可能に挿通され、上記ピン本体が上記バレルに装着されているバネ手段により上記バレルから突出する方向に付勢されている導電検査用プローブピンにおいて、 上記ピン本体を上記バレルに対して選択的に非摺動状態とするピン固定手段を備えていることを特徴とする導電検査用プローブピン。
IPC (1件)：
G01R 1/067
FI (1件)：
G01R1/067 C
Fターム (11件)：
2G011AA02 ,  2G011AA15 ,  2G011AA16 ,  2G011AB01 ,  2G011AB03 ,  2G011AB04 ,  2G011AB05 ,  2G011AB06 ,  2G011AC02 ,  2G011AC14 ,  2G011AE03
引用特許：
出願人引用 (1件)

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