特許

J-GLOBAL ID：200903001905479980

粒度分布測定装置

発明者： 伊串 達夫
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-329830
公開番号（公開出願番号）：特開平9-145591
出願日： 1995年11月24日
公開日（公表日）： 1997年06月06日
要約：

【要約】【課題】 一定粒度以下の試料だけを選択して分散させ、測定に供することができる粒度分布測定装置を得る。【解決手段】 粒度分布測定装置は、粒状試料Sの分散処理を、圧縮空気caが供給される試料供給筒8内に挿入したオリフィス7から試料Sを試料供給筒8内に噴出させる乾式分散器4で行って、測定セル11に試料Sをフローさせると共に、測定セル11に光線を入射し、試料Sの散乱光や透過光の検出データに基づいて粒度分布を測定するものである。この粒度分布測定装置に、乾式分散器4のオリフィス7に連通する試料収容密閉容器2と、この容器2内に臨み容器2内の試料Sに圧縮空気caを吹き付けるノズル3とからなる粒状試料発生・分別器1を設ける。

請求項（抜粋）：

圧縮空気が供給される試料供給筒内に挿入したオリフィスから粒状の試料を前記試料供給筒内に噴出させて分散させる乾式分散器を経て、試料を測定セルにフローさせ、かつ前記測定セルに光線を入射し透過させて、前記試料の散乱光および/または透過光の検出データに基づいて試料の粒度分布を測定する粒度分布測定装置において、前記乾式分散器のオリフィスに連通する試料収容密閉容器と、この容器内に臨み容器内に収容した試料に圧縮空気を吹き付けるノズルとを有する粒状試料発生・分別器を設けたことを特徴とする粒度分布測定装置。