特許

J-GLOBAL ID：200903002030124659

X線診断装置

発明者： 永井 清一郎
出願人/特許権者： 東芝メディカルエンジニアリング株式会社 ,  株式会社東芝
代理人 (1件)： 三好 秀和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-353473
公開番号（公開出願番号）：特開平7-201490
出願日： 1993年12月29日
公開日（公表日）： 1995年08月04日
要約：

【要約】【目的】 X線露光量を適性に制御できるX線診断装置を提供する。【構成】 X線を光信号に変換するX線-光信号変換部5と、X線-光信号変換部5によって変換された光信号を電気信号に変換する光-電気信号変換部7と、光-電気信号変換部7の所定画素をX線露光量検出画素とし、この画素の電気信号を所定時間間隔で読出して蓄積する電気信号蓄積部23と、電気信号蓄積部23に蓄積された電気信号が予め設定された所定値より大きくなった場合、X線曝射を停止させる判定部25と、X線露光量検出画素の電気信号が読出されたとき、その電気信号をX線露光量検出画素毎に蓄積する電気信号記憶部29と、X線露光量検出画素の電気信号は電気信号記憶部29から読出し、それ以外の画素の電気信号は光-電気信号変換部7から読出す切り替え部31とを具備する。

請求項（抜粋）：

X線を光信号に変換するX線-光信号変換手段と、このX線-光信号変換手段により変換された光信号を複数の画素により撮像して電気信号に変換する光-電気変換手段とを備えるX線診断装置において、前記光-電気信号変換手段の一部の画素の電気信号値によってX線露光量の制御を行うX線露光量制御手段を具備することを特徴とするX線診断装置。

IPC (2件)：

H05G 1/36 ,  A61B 6/00 320

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開平1-161976
  
• 特開平3-032175
  
• 特開平2-108926
  
• 特開昭63-105500
  
• 特開平4-267099