特許

J-GLOBAL ID：200903002043836283

PLCテスト支援システム

発明者： 佐野 優治
出願人/特許権者： 東洋エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 若林 忠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-272839
公開番号（公開出願番号）：特開平9-114689
出願日： 1995年10月20日
公開日（公表日）： 1997年05月02日
要約：

【要約】【課題】 テストの準備、仕様変更に手間がかからず、また再現性、汎用性あるPLCテスト支援システムを提供する。【解決手段】 通信ネットワーク上で接続され、分散型システムを構成するパーソナル・コンピュータ、ワークステーション、プログラマブル・ロジツク・コントローラおよび通信インターフェイス等を対象とするPLCテスト支援システムであって、PLCテストを目的とする各種のテスト・プログラム部と、要求によりテスト結果を表示、記録する手段とを含むオペレーション・コンソールと、PLCに搭載された各種の監視データの値を高速で常時スキャンして、要求により指定されたテスト項目・方法に従つてデータを整理・格納するためのロギング・コンソールと、ネットワーク上のPLCの代わりに、対象パソコン群とのデータ送受信およびデータ格納機能を模擬するためのPLCエミユレータとを具備する。

請求項（抜粋）：

通信ネットワーク上で接続され、分散型システムを構成するパーソナル・コンピュータ、ワークステーション、プログラマブル・ロジツク・コントローラおよび通信インターフェイス等を対象とするPLCテスト支援システムであって、PLCテストを目的とする各種のテスト・プログラム部と、要求によりテスト結果を表示、記録する手段とを含むオペレーション・コンソールと、PLCに搭載された各種の監視データの値を高速で常時スキャンして、要求により指定されたテスト項目・方法に従つてデータを整理・格納するためのロギング・コンソールと、通信ネットワーク上のPLCの代わりに、対象パソコン群とのデータ送受信およびデータ格納機能を模擬するためのPLCエミユレータとを具備することを特徴とするPLCテスト支援システム。

IPC (4件)：

G06F 11/22 330 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 13/00 301 ,  G06F 13/00 351

FI (4件)：

G06F 11/22 330 H ,  G06F 11/22 310 A ,  G06F 13/00 301 T ,  G06F 13/00 351 N