特許
J-GLOBAL ID:200903002088826149

表面温度測定システム、加熱炉、表面温度測定方法、及びコンピュータプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 國分 孝悦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-076791
公開番号(公開出願番号):特開2008-233020
出願日: 2007年03月23日
公開日(公表日): 2008年10月02日
要約:
【課題】 加熱されている被測定物体の表面温度を、従来よりも高い精度で測定することができるようにする。【解決手段】 加熱帯13の上方から、加熱帯13内を搬送されるスラブ21の表面を望む位置に、略3.9[μm]の波長を有する光のみを検出する放射温度計100を設置し、複数の熱電対200を、加熱帯13の天井面13aに概ね格子状に点在させ、放射温度計100で求められた発光輝度から、熱電対200で測定された温度を用いて算出した迷光雑音輝度を引いて、スラブ21自体から発光される自発光輝度を求める。このとき、放射温度計100はスラブと正対し、点在する熱電対は温度測定中心点21aから放射温度計100の方向に広がる天頂角θが45[°]の仮想の円錐41があると見なした場合にその円錐41の内部に入るようにするのが望ましい。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
ガス焚き加熱炉内で加熱されている被測定物体の表面温度を測定する表面温度測定システムであって、 前記被測定物体から発光される波長の光のうち、ガスの放射と吸収とが他の波長帯域よりも小さい特定波長の光の発光輝度を測定する発光輝度測定手段と、 前記被測定物体の表面に入射する外乱光を発生する領域に設けられた複数の温度測定手段と、 前記複数の温度測定手段により測定された温度に基づいて、前記被測定物体に入射する外乱光を発生する領域の温度分布を計算する温度分布計算手段と、 前記発光輝度測定手段により測定される発光輝度のうち、前記被測定物体の表面で反射した迷光雑音輝度を、前記温度分布計算手段により計算された温度分布を用いて計算する迷光雑音計算手段と、 前記発光輝度測定手段により測定される発光輝度のうち、前記被測定物体自体から発生している自発光輝度を、前記迷光雑音計算手段により計算された迷光雑音輝度と、前記発光輝度測定手段により測定された発光輝度とを用いて計算する自発光輝度計算手段と、 前記自発光輝度計算手段により計算された自発光輝度を用いて、前記被測定物体の表面温度を計算する表面温度計算手段とを有することを特徴とする表面温度測定システム。
IPC (4件):
G01J 5/00 ,  G01K 7/02 ,  G01J 5/10 ,  G01J 5/12
FI (4件):
G01J5/00 101A ,  G01K7/02 E ,  G01J5/10 ,  G01J5/12
Fターム (4件):
2G066AC11 ,  2G066BA08 ,  2G066BB01 ,  2G066BC15
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (12件)
  • 炉内物体の温度測定方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-319543   出願人:新日本製鐵株式会社
  • ガスろう付装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-312657   出願人:株式会社進和
  • 熱間圧延ラインにおける材料の温度測定方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-005423   出願人:川崎製鉄株式会社
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