特許
J-GLOBAL ID：200903002123919228
ゼータ電位測定方法及びパルプスラリーの調製方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
河澄 和夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-081464
公開番号（公開出願番号）：特開平7-286984
出願日： 1994年04月20日
公開日（公表日）： 1995年10月31日
要約：
【要約】【構成】 任意に選択された流動電位型ゼータ電位測定装置を用いて得られたゼータ電位測定値を、前記ゼータ電位測定装置の流動電位電極が標準電導度計に対して示す電導度の偏差に基く補正係数Aを用いて、次の計算式によって算出する。【数1】ζ=4πηλ1 E/(εP)×(1/A)ζ:補正されたゼータ電位η:粘度λ1 :前記の任意に選択されたゼータ電位測定装置による特定液の電導度E:流動電位ε:誘電率P:圧力A:標準電導度計による補正係数であり、A=(λ1 /λ0 )但し、λ0 は標準電動度計による前記特定液の電導度【効果】 測定値が補正され絶対値としての意味を有するので、オフライン型(電気泳動法)のゼータ電位測定装置による測定値、或いは本発明の方法で補正された他の流動電位型ゼータ電位測定装置による測定値と直接に数値の大小を比較できる。
請求項（抜粋）：
任意に選択された流動電位型ゼータ電位測定装置を用いて得られたゼータ電位測定値を、前記ゼータ電位測定装置の流動電位電極が標準電導度計に対して示す電導度の偏差によって補正することを特徴とするゼータ電位測定方法。
IPC (3件)：
G01N 27/26
, D21F 7/00
, D21H 17/00
