信号配線の良否検査方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小川勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-165043
公開番号（公開出願番号）：特開平8-029472
出願日： 1994年07月18日
公開日（公表日）： 1996年02月02日
要約：

【要約】【目的】回路基板上の信号配線の良否検査方法に関し、実装された半導体集積回路を破壊することなく容易に信号配線の短絡検査を行う。【構成】スイッチ15をオンすると、半導体回路用電源端子(VEE端子)10に対して検査用電圧(e)が印加されるので、この状態で信号終端用電源端子(VTT端子)11における電圧を電圧計13を用いて測定する。このとき、信号配線4,5,6とVEE端子10との間に短絡がなかった場合には電圧測定結果が0[V]となるが、短絡があった場合にはVEE端子10に印加したのと同じ電圧値(e)が測定結果として得られる。これにより、信号配線と半導体回路用電源端子(VEE端子)との短絡検査を行うことができる。

請求項（抜粋）：

半導体集積回路を構成するすべての半導体回路について、前記半導体回路が遮断状態を維持する検査用電圧と、前記半導体回路の遮断電流を満足する制限電流とを有する電源・接地短絡検出用電圧源を用いて、前記半導体集積回路の電源端子に対して前記検査用電圧を印加するとともに前記半導体集積回路が実装された回路基板上に設けられた信号配線の終端部における電圧の有無を判定するか、あるいは、前記終端部に対して前記検査用電圧を印加するとともに前記電源端子における電圧の有無を判定することにより、前記電源端子と前記信号配線との間の短絡検出を行うことを特徴とする信号配線の良否検査方法。

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